《表4 两种试验频率下Pd和N的比值》
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《空封光电耦合器内部多余物颗粒PIND检出概率研究》
再分析Pd随频率的变化,对于一定的采样总时长与时间间隔,从原理上,单位时间内颗粒的碰撞次数、N值和Pd值上升的趋势应该与试验频率上升的趋势相近。在试验频率上升到约2.2倍后,参照图2,3和表2,3,得到130Hz与60Hz两种试验频率下Pd和N的比值,如表4所示。
图表编号 | XD00188412400 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2021.02.01 |
作者 | 李冰、丁鹏、金晖、陈春霞、鲍江、石云莲 |
绘制单位 | 重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所、重庆光电技术研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |