《表6 方案二（Ep.Cu0～3Ni0～3Au1.27hd）镀层结构样品不同插拔次数后接触电阻值（mΩ）》

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《典型航天电连接器接触件镀层结构及其特性试验分析》

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按照表1和表2设计的试验条件，分别将方案一和方案二中各接触件样品装配成J36A电连接器，并按照要求进行0～2000次插拔机械寿命试验，在插拔过程中对接触电阻变化情况进行监测，在每阶段插拔后测试接触电阻值，试验结果见表5和表6。