《表3 各算法处理时间及样本表面缺陷识别率》

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《基于区域亮度自适应校正算法的脐橙表面缺陷检测》

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与之相对照，在对脐橙表面亮度校正后，如图6-b所示，脐橙边缘能量等级得到提升，而缺陷区域依旧保持较低的能量等级，为单阈值法提取缺陷带来可能。尽管本文算法是针对图像每个像素邻域进行计算的，但算法简单，运算速度较其他3种算法有大幅提高，对采集的全部正常果、8类缺陷果，共356幅脐橙样本图像进行亮度校正、缺陷检测，平均处理每幅图像仅耗时0.29 s，较基于其他3种亮度校正算法的缺陷检测方法，分别减少0.27 s、0.14 s和1.45 s；脐橙表面缺陷果的正确识别率达到了95.8%，对比其他3种算法，其缺陷果正确识别率提高了2.6%—8.2%，结果如表3所示。