《表4 标准样品/内控样成分含量》

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《熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅钙钡合金中硅钙钡磷铝》

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选取含量范围适宜、且呈梯度变化的硅钙钡合金标准样品5个及内控样2个作为校准样品，具体成分含量见表4。按1.3步骤进行样品制备，然后在X射线荧光光谱仪上进行测定，以各元素含量为横坐标，X射线荧光强度为纵坐标，绘制校准曲线。各元素测量范围、线性回归方程、相关系数（r）见表5。由相关系数r可知各元素的曲线线性较好，采用基体相同的标样/内控样进行曲线绘制，无需进行基体等干扰校正。