《表5 共存元素对高温合金中Hf测定结果的影响》
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《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍基单晶高温合金中钨钽铪铼》
如表5所示,共存元素Cr、Mo、W、Ta对Hf的测量有影响;其中Hf 264.141nm和Hf 277.336nm谱线均只受Cr干扰,可用于不含Cr的镍基合金;Hf263.871nm谱线受Mo、W、Ta干扰非常严重,不宜选用;Hf 191.952nm谱线则受W和Ta干扰严重,不宜选用;Hf 282.022nm和Hf 339.980nm受共存元素干扰较小,两者相比较,在本实验条件下Hf282.022nm受共存元素影响更小,如图2所示。综合考虑,Hf 282.022nm可作为镍基单晶高温合金中Hf测定的最佳分析谱线。
图表编号 | XD00176589500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.01 |
作者 | 朱天一、冯典英、李本涛、黄辉、李颖、巩琛 |
绘制单位 | 中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所、中国兵器工业集团第五三研究所 |
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