《表4 共存元素对高温合金中Ta测定结果的影响》

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《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍基单晶高温合金中钨钽铪铼》

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如表4所示，共存元素Ni、Cr、Co、W对Ta的测量有影响；其中Ta 226.230nm、Ta 228.196nm、Ta233.198nm和Ta 249.777nm谱线均受Ni干扰严重，不适合镍基合金中元素测定；Ta 268.517nm仅受Cr干扰，因此可用于不含Cr的镍基合金。综合考虑，Ta 240.063nm可作为镍基单晶高温合金中Ta测定的最佳分析谱线。