《表3 AHSI辐射性能稳定性评估》
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AHSI星上漫反射板定标分别采集了2018-09-04和2019-03-01的定标数据,提取了两组数据的暗电平、信噪比和相对辐射校正系数,然后计算了两组数据的变化率,结果如表3所示。可以看出,基于间隔半年所采集的两次漫反射板定标数据而提取的暗电平、信噪比和相对辐射校正系数变化率均小于1%。这说明AHSI相机在轨运行期间辐射响应特性和噪声特性稳定,也反映出AHSI在轨运行期间辐射性能指标的稳定性。
图表编号 | XD00176451600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.25 |
作者 | 刘银年、孙德新、曹开钦、刘书锋、柴孟阳、梁建、原娟 |
绘制单位 | 中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外探测与成像技术重点实验室、南通智能感知研究院、中国科学院上海技术物理研究所启东光电遥感中心、中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外探测与成像技术重点实验室、南通智能感知研究院、中国科学院上海技术物理研究所启东光电遥感中心、中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外探测与成像技术重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外探测与成像技术重点实验室、中国科学院上海技术物理研究所中国科学院红外探测与成像技术重点实验室、南通智能感知研究院、中国科学院上海技术 |
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