《表1 串联分配相噪测试表Tab.1 Series distribution phase noise test table》
6) 使用信号源分析仪E5052A测试相位噪声;测试结果如图5所示,测试数据如表1。
图表编号 | XD0016821200 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.06.05 |
作者 | 程明、姜建飞 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第三十六研究所、中国电子科技集团公司第三十六研究所、通信信息控制和安全技术国防重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
6) 使用信号源分析仪E5052A测试相位噪声;测试结果如图5所示,测试数据如表1。
图表编号 | XD0016821200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2018.06.05 |
作者 | 程明、姜建飞 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第三十六研究所、中国电子科技集团公司第三十六研究所、通信信息控制和安全技术国防重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |