《表1 镀液中的沉淀的X射线荧光数据》

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《碱性Ni-W-P电镀针孔缺陷的起因和对策》

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采用X射线荧光光谱分析仪和X射线衍射仪（XRD）分析沉淀的组成，结果分别如表1和图2所示。由表1可以看出，沉淀中的镍、钠、钨、氧等元素的质量百分含量分别为21.93%、6.82%、1.14%和14.6%，而硫元素含量极低，说明沉淀含有硫酸根的可能性较小。表1中测出的元素质量百分含量之和为48.15%，可以推断出原子序数小于8的元素（H、C、N等）的含量为51.85%，这说明配位剂和添加剂分解生成了大量有机物。对沉淀样品的XRD谱图进行分析，1号峰位对应水合5-甲基-3-硝氨基-1，4，5-三唑的衍射峰，2号峰位对应柠檬酸钠的衍射峰，谱图中未见硝酸镍和硫酸镍晶体的衍射峰。此外，样品中还含有一些无法分辨的非晶态物质，可能为配位剂和添加剂及其分解产生的有机物。