《表1 样片制作条件:X射线荧光分析仪在水泥生产质量控制中的全过程应用》

《表1 样片制作条件:X射线荧光分析仪在水泥生产质量控制中的全过程应用》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《X射线荧光分析仪在水泥生产质量控制中的全过程应用》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

待检样品必须用专用磨机、专用研磨器具粉磨,采用长春科光ZM-1振动磨和碳化钨磨盘具有效率高、误差小、复演性好。将待检样品粉磨细度小于80μm,经过反复的对比试验,防止黏盘和细度达不到要求,确定各待检样品合理粉磨时间分别为120 s、140 s和180 s,详见表1。