《表1 半能损失试验数据》

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《基于Z字开关网络的超级电容塌缩充电法》

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半能损失可以通过如下试验进行验证:C1为2.7 V/100 F的超级电容，用C1模拟稳压电源，C2为5.5 V/16F的超级电容，用C1对C2直接充电，充电时间3 min，半能损失试验数据如表1所示。通过试验，证实了空压电容在稳压下充电的半能损失是真实存在的。