《表5 技术问题分析指标:基于专利技术功效矩阵的技术机会识别方法》

《表5 技术问题分析指标:基于专利技术功效矩阵的技术机会识别方法》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
本系列图表出处文件名:随高清版一同展现
《基于专利技术功效矩阵的技术机会识别方法》


  1. 获取 高清版本忘记账户?点击这里登录
  1. 下载图表忘记账户?点击这里登录

以该领域内技术手段和技术问题的对应关系表格中的数据为基础,通过技术手段数量、技术手段可解决技术问题的种类(简称技术问题的种类)和技术手段布局难易度3个维度对技术手段进行技术机会分析,通过技术问题数量、解决技术问题所采用技术手段的种类(简称技术手段的种类)和技术问题布局难易度3个维度对技术问题进行技术机会分析,其中,技术手段难易度和技术问题难易度的数值是根据前面的计算所获得的;技术手段的数量和技术问题的数量为专利文献的数量总和,如技术手段α的数量=2+1+0+2+4+0=9,技术问题A的数量=2+15+1+0+4+0=22;技术手段α可解决技术问题A、B、D和E,从而技术手段α可解决技术问题的种类为4种,技术问题A可通过技术手段α、β、γ和δ4个手段解决,从而解决技术问题A所采用技术手段为4种。根据以上计算可以获得技术手段分析和技术问题分析的3个维度指标,如表4、表5所示。根据这3个维度的指标可以将该领域的技术手段和技术问题分别归类为专利壁垒区(专利申请量很大,布局难易度较高,技术机会较小)、专利活跃区(专利申请量较大,布局难易度适中,技术机会适中)、专利潜力区(申请量较小,但技术问题或技术手段的种类较多,是布局的潜力方向,技术机会存在的可能性最高)和专利沉寂区(专利申请量较小,技术问题或技术手段的种类也较少,不值得布局,技术机会很小),基于此识别出技术机会。