《表3 计算及试验基频:空间光学敏感器成像组件抗力学稳定性分析与评价》
经模态分析和扫频试验,前六阶基频及试验结果如表3所示.可以看出,分析结果与试验基频误差较小,验证了本文所用分析方法的有效性.组件的前三阶振型如图4所示,其中前两阶为绕X向和Y向的摆动(光轴方向为Z向),第三阶振型为沿Z轴的上下振动.
图表编号 | XD00164958800 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.01 |
作者 | 张慧锋、孙艳、李春江、孙建波、周建涛、曹明宇 |
绘制单位 | 北京控制工程研究所、空间光电测量与智能感知实验室、北京控制工程研究所、空间光电测量与智能感知实验室、北京控制工程研究所、空间光电测量与智能感知实验室、北京控制工程研究所、空间光电测量与智能感知实验室、北京控制工程研究所、空间光电测量与智能感知实验室、北京控制工程研究所、空间光电测量与智能感知实验室 |
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