《表3 新方法测试时间分析》
采用新方法,可以发现计算5个频点,数据序列长度8 192,所耗时间只有14.3 ms(表3),因此该方法成本低廉,适用于芯片量产测试。
图表编号 | XD00162180500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.25 |
作者 | 陆明 |
绘制单位 | 光梓信息科技(上海)有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |
采用新方法,可以发现计算5个频点,数据序列长度8 192,所耗时间只有14.3 ms(表3),因此该方法成本低廉,适用于芯片量产测试。
图表编号 | XD00162180500 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.04.25 |
作者 | 陆明 |
绘制单位 | 光梓信息科技(上海)有限公司 |
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