《表3 新方法测试时间分析》

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《高速数模转换芯片动态特性高精度量产测试技术研究》


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采用新方法,可以发现计算5个频点,数据序列长度8 192,所耗时间只有14.3 ms(表3),因此该方法成本低廉,适用于芯片量产测试。