《表5 线性方程、线性范围、相关系数与检出限》

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《电感耦合等离子体发射光谱法测定高纯铝中硅》

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在1.2仪器工作条件下，测定1.4中配制的硅系列标准工作溶液，以硅的质量分数c为横坐标，发射光谱强度y为纵坐标绘制工作曲线并进行线性回归，计算线性方程和相关系数。对试剂空白连续测定10次，以3倍标准偏差作为检出限。线性方程、相关系数以及检出限见表5。表5中数据说明，硅含量在0.001%～0.020%范围内线性关系良好，检出限低。