《表1 GCM和XRF厚度测试结果》

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《GCM恒电流库伦测厚仪及XRF荧光光谱测厚分析仪在有机纳米银镀层厚度测量上的研究》

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例如，如果XRF的读数是102.39 nm，代入线性回归公式:GCM=107 nm。对应的5 mm×5 mm位置的有机金属纳米银厚度即为107 nm，有了这个线性回归方程式，能够快速便捷地用XRF测试出有机金属镀层的厚度。