《表5 在Ge(209.426nm）处可能存在的干扰》

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《电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）法测定锗精矿中锗量》

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锗精矿样品中含有铜、铅、锌、铁、钒、锡、锑、砷、硅等杂质。在所选波长209.426nm处可能存在的干扰如表5所示。锗精矿样品用硝酸、氢氟酸、磷酸处理定容，然后稀释，采用电感耦合等离子体光谱法测定。锗精矿中的硅可通过氢氟酸去除干扰，其他共存元素因稀释10倍后含量比较低，基本无影响。因为选用磷酸处理样品，磷酸对仪器的测定有影响，所以采用在标准溶液中添加与溶液中相同量的磷酸来去除干扰，即基体匹配的方法消除磷酸带来的干扰。