《表2 RTV涂层中主要官能团的红外吸收峰》

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《室温硫化硅橡胶涂层厚度对电晕老化特性的影响》

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FTIR可以根据吸收光谱中的吸收峰值和面积分析材料的化学键和基团[17-18]，RTV涂层中各主要官能团的红外吸收光谱如表2。FTIR试验采用布鲁克ALPHA型红外光谱仪。为了研究电晕老化对不同厚度涂层的影响，采用1 000～1 500目的砂纸均匀打磨试品表面，通过螺旋测微仪测量打磨前后的涂层厚度差，得到每次打磨的厚度，打磨数次，得到不同的切入深度，分别进行红外光谱扫描，试品FTIR结果如图7所示。其中深度0表示扫描点为试品表面，深度1表示扫描点离表层深度为（1±0.1）μm处。同理，深度2、3、4、5分别表示扫描点离表层深度（2±0.1）、（3±0.1）、（4±0.1）、（5±0.1）μm处。