《表7 C曲线短期检测数据》
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《X射线荧光光谱仪压片法不同晶体和探测器组合测定烧结矿全铁含量的研究》
直接将用于建立曲线的5个样品,用来检测不同晶体和探测器组合短期精度。将每个样品连续测定5次得到表5、表6、表7的数据。
图表编号 | XD00152290900 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.05.01 |
作者 | 余鹰 |
绘制单位 | 福建三钢小蕉实业发展有限公司 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |