《表8 A曲线中长期检测数据》

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《X射线荧光光谱仪压片法不同晶体和探测器组合测定烧结矿全铁含量的研究》


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直接将用于建立曲线的5个样品,用来检测不同晶体和探测器组合中长期精度。将每个样品每天测5次,取其平均值,连续测10天,得到表8、表9、表10的数据。