《表1 各个注量样品不同温度下的反向击穿电压》
在稳压电路中,齐纳管始终工作在反向击穿区,且其两端电压保持在非常小的范围内波动,因此要求相对精确的稳定电压值。提取辐照前后不同温度下器件反向击穿电压VB,结果如表1所示。可以看出,辐照后各个温度点下测得的反向击穿电压比辐照前有一定减小,但这样的偏移对作为稳压管的使用不会造成明显的影响。随着温度的升高,击穿电压的变化率逐渐增大。因此,电子辐照后的齐纳管在高温的情况下,击穿电压偏移相对较大,将有可能影响稳压管的正常工作。从80 K开始,随着温度的升高,辐照前后的每个样品反向击穿电压均逐渐减小。这是由于此样品击穿机制显然是齐纳击穿,因此击穿电压保持负温度系数,电子辐照对此系数的大小亦无明显影响。
图表编号 | XD00150876600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.05.20 |
作者 | 明思汀、王多为、唐常钦、马瑶、李芸、杨治美、黄铭敏、龚敏 |
绘制单位 | 四川大学物理学院微电子技术四川省重点实验室、四川大学辐射物理及技术教育部重点实验室、四川大学物理学院微电子技术四川省重点实验室、四川大学辐射物理及技术教育部重点实验室、四川大学物理学院微电子技术四川省重点实验室、四川大学辐射物理及技术教育部重点实验室、四川大学物理学院微电子技术四川省重点实验室、四川大学辐射物理及技术教育部重点实验室、四川大学物理学院微电子技术四川省重点实验室、四川大学辐射物理及技术教育部重点实验室、四川大学物理学院微电子技术四川省重点实验室、四川大学辐射物理及技术教育部重点实验室、四川大 |
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