《表1 传统试验方案与优化设计方案对比》

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《对数正态分布条件下某光耦步进加速退化试验优化设计》

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基于前面的理论推导，结合本文研究的实际背景，其具体参数设定如下:光耦的数量是固定的，即n=12；通过前期的摸底试验，温度应力设定为70℃，90℃以及110℃；固定测试频率f=8次/h，当给定总的试验时间352 h后，总的测试次数44是固定的。因此各应力下测试的次数分配是要优化的方案。为了保证曲线拟合和外推的准确性，规定每个应力水平下测试次数不少于10次，并且满足li>li+1（i=1，2，3）。由于解池中共有15种方案，方案种类并不是很多，这里采用了全部计算出目标函数然后逐个比较寻优的方法。经过寻优发现μV和σV最小同时出现在（23，11，10）这个方案中。而对于传统试验方案来说，各个应力下的测试次数是均等分配的[18]。表1是测量次数均等分配的传统试验方案与优化设计方案的对比。