《表3 分析样品检测结果：一种黑铜粉中杂质含量的测定方法——ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱法》

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《一种黑铜粉中杂质含量的测定方法——ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱法》

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(4）样品分析检测。用ICP-OES进行分析检测，检测结果见表3。由表3可见，样品检测限[3]为0.009%～55.98%，RSD<0.82%。该方法准确、快捷，得到令人满意的结果，测的结果与实际情况相吻合，为实际生产经营及工艺调整提供可靠依据。