《表2 检出限和测定下限：电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）法测定低品位铬铁矿中Cr含量》

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《电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）法测定低品位铬铁矿中Cr含量》

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取样品空白溶液测定11次，以3倍标准偏差计算出待测元素的检出限，以检出限10倍作为该方法测定下限。结合图1与表2，Cr在267.716nm谱线具有非常低的检出限，较高的灵敏度，良好的线性范围。