《表5 B30P105取向磁屏蔽构件杂散损耗Tab.5 Stray-field loss of grain-oriented magnetic shielding structure》
提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式
表4和表5分别为35WW300无取向磁屏蔽、B30P105取向磁屏蔽构件的杂散损耗。可知，测量和仿真相结合测量屏蔽构件杂散损耗的方法具有较好的一致性，说明该损耗测量和计算方法的有效性。
| 图表编号 | XD0014752300 严禁用于非法目的 |
|---|---|
| 绘制时间 | 2018.04.23 |
| 作者 | 赵志刚、魏鹏、戎静怡、李兴、刘慧敏 |
| 绘制单位 | 电磁场与电器可靠性省部共建重点实验室河北工业大学、电磁场与电器可靠性省部共建重点实验室河北工业大学、电磁场与电器可靠性省部共建重点实验室河北工业大学、电磁场与电器可靠性省部共建重点实验室河北工业大学、电磁场与电器可靠性省部共建重点实验室河北工业大学 |
| 更多格式 | 高清、无水印（增值服务） |
