《表1 菱角壳基硬炭的结构参数》

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《水热-炭化法制备菱角壳基硬炭及其储锂性能》

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图2菱角壳基硬炭的XRD与Raman谱图。由图2（a）可知，HT-x样品分别在23°和43°出现较宽的（002）和（10）衍射峰，说明HT-x具有无序结构。根据（002）衍射峰和（10）衍射峰的位置、布拉格方程和谢乐公式，计算出石墨微晶的结构参数d002、La、Lc、N值，如表1所示。随着炭化温度的升高，（002）衍射峰逐渐逐渐尖锐并向又偏移，样品的d002值由0.40 nm减小至0.37 nm，但均大于石墨的层间距（0.335 nm)[22-23]，La和Lc明显增大，N值也逐渐增大（从3.88增加至6.01），表明较高温度炭化的样品，石墨化程度也高。由图2（b）所示，拉曼光谱在1350 cm-1(D峰）和1580 cm-1(G峰）处出现两个特征峰[24]，说明HT-x具有无定形炭结构。IG/ID值由0.34 nm增大至0.57 nm，且特征峰随炭化温度升高逐渐尖锐，表明HT-x样品的石墨化程度随温度升高而升高，与XRD和TEM的讨论结果一致。