《表1 不同样品的D50、粉末电阻率和元素含量》
不同样品的粒度分布曲线见图3,所有样品的粒度分布都很集中,与SEM分析结果相一致,验证包碳过程没有出现严重团聚。如表1所示,SiO@C-F-0、[email protected]和[email protected]的D50分别为8.858μm、7.661μm和8.376μm,PTFE用量为20%(质量分数,下文同)时,材料粒度相比没有加PTFE时更小,说明PTFE促进包覆碳层更加均匀,减少了颗粒间微团聚,反而使材料粒度更小。当PTFE用量继续增加到33%,包覆碳层增厚,材料粒度也紧随增加。
图表编号 | XD00146854000 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.05 |
作者 | 刘兴稳、贺劲鑫、王海林、靳承铀、缪永华、薛驰 |
绘制单位 | 江苏中天科技股份有限公司、江苏中天科技股份有限公司、江苏中天科技股份有限公司、江苏中天科技股份有限公司、江苏中天科技股份有限公司、江苏中天科技股份有限公司 |
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