《表1 纳米SiO2微粒的质量浓度对Ni-P-纳米SiO2复合镀层成分的影响》

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《纳米SiO_2微粒对Ni-P-纳米SiO_2复合镀层组织和性能的影响》

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表1为纳米SiO2微粒的质量浓度对Ni-P-纳米SiO2复合镀层成分的影响。由于纳米SiO2微粒不是均匀地分布在试样表面，所以当纳米SiO2微粒的质量浓度非常低时，扫描电镜所取的点没有Si元素出现，只出现Ni和P元素。本实验中，只在纳米SiO2微粒的质量浓度为0.5g/L和1.0g/L的镀层表面检测到了Si元素。当纳米SiO2微粒的质量浓度为0.2g/L时，没有检测到Si元素。这可能是由于纳米SiO2微粒的质量浓度太低，EDS无法检测到。而在纳米SiO2微粒的质量浓度为2.0g/L和4.0g/L时没有检测到Si元素，可能是由于施镀后期镀速变慢，纳米SiO2微粒发生沉降，导致镀层表面沉积的纳米SiO2微粒非常少而无法检测到。