《表3 不同稀释比对荧光强度及其精密度的影响》

《表3 不同稀释比对荧光强度及其精密度的影响》   提示:宽带有限、当前游客访问压缩模式
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《熔融制样-X射线荧光光谱法测定铝矾土中二氧化硅、氧化铝和三氧化二铁》


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在选定的实验条件下,选取稀释比分别为1∶5、1∶10、1∶20进行试验。结果表明,采用稀释比为1∶5时,样品流动性差,不能充分熔融,难以形成均匀、透明的玻璃样片;采用稀释比为1∶10和1∶20时,样品流动性较好,样品成型透明、均匀。在稀释比分别为1∶10和1∶20的条件下各制备7个样片,在选定的测量条件下进行测定,测得各组分的荧光强度,并计算荧光强度的标准偏差(SD)和相对标准偏差(RSD),结果见表3。表3数据表明,采用稀释比为1∶10时,二氧化硅、氧化铝、三氧化二铁这3种组分的荧光强度较稀释比为1∶20时高出一倍左右,且三氧化二铁的相对标准偏差较稀释比为1∶20偏低,这可能是因为大的稀释比会引起铁的荧光强度下降,从而影响了其精密度。因此,实验选择稀释比为1∶10。