《表3 各成分校准曲线参数》

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《烧结熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅铁中主次组分》

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选取含量范围适宜、且呈梯度变化的硅铁合金标准样品8个（见表2），按照1.4制备玻璃熔片，以各成分含量（w）与X射线荧光强度（I）绘制校准曲线，曲线参数见表3。表3中的相关系数及回归精度数据表明各元素线性良好，无需进行基体校正。