《表3 校准曲线相关参数、检出限和测定下限》

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《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铅锭中微量硅》

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在设定好的仪器工作条件下对系列标准溶液进行测定，以待测元素硅的质量浓度为横坐标，其发射强度为纵坐标，绘制校准曲线。按照1.3节试样的处理方法得到11份样品空白溶液，平行测定其浓度，以其标准偏差3倍来计算方法的检出限，以5倍的检出限为测定下限，见表3。