《表1 t分布检验系数表:FY-3D微波成像仪非线性特征及计算方法优化》
在处理地面试验数据的过程中,通过分析非线性系数的标准偏差验证了第一个依据,即两个定标点的数据可以直接去掉。此外,在定标点温度附近的标准偏差也较大,因此在此基础上提出了一种基于t分布检验准则的优化方法,t分布检验系数如表1所示,可以通过分析非线性系数的标准偏差来选择合适的变温源温度范围。
图表编号 | XD00140649200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2020.03.25 |
作者 | 董克松、谢鑫新、李雪、刘伟亮 |
绘制单位 | 上海航天电子技术研究所、上海航天电子技术研究所、上海航天电子技术研究所、上海航天技术研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |