《表4 不同压力制样方法的精密度》

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《高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素》

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方法的精密度用相对标准偏差（RSD=SD/mi×100%）估算，其中SD为标准差，mi为每个样品中元素i的平均含量。将GBW7165在400kN及1 800kN压力下各压制6个片，分别计算其RSD。强度随压力增加的变化不大。19个组分在400kN及1 800kN压力下方法的精密度比较见表4。1 800kN制样方法的精密度19个组分中有10个组分的精密度好于400kN的精密度，高压覆膜后散射减小，轻元素的精密度有改善。