《表5 不同压力检出限比较》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

检出限和样品的基体有关，不同的样品因其成分和含量不同，分析元素的灵敏度、散射的背景强度、谱线重叠干扰程度也会发生变化，因而不同样品计算出的检出限也不同。为此使用各含量较低的多金属标准样品重复测量10次计算其标准偏差（SD）再乘3作为检出限。经计算，1 800kN与400kN检出限见表3，从表3中可以看出，1 800kN压制的样片19个组分中有10个组分的检出限低于400kN压制的样片（见表5），在1 800kN压制的样片致密，灵敏度提高，制样的精密度高，因此轻元素的检出限降低。