《表1 GIS内部主要缺陷类型及引发故障比例》

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《一种基于扫描电镜和能谱仪的GIS放电异物来源分析方法》

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关于设备可靠性的统计表明，GIS绝缘故障中金属微粒及其他异物（以下称为放电异物）放电所引发的故障占据了很大比例，出现异物放电的主要原因是GIS在生产、装配、运输和开关动作等过程中GIS内部会不可避免地产生金属颗粒及其他异物，而金属微粒的自由运动会急剧降低SF6气体的绝缘水平[12-13]。GIS放电异物中金属微粒的存在形式主要有线形微粒、片形微粒和粉尘等。其中，线形微粒引起电场畸变的能力最强，因而其降低设备绝缘强度的作用也最大；粉尘微粒由于尺寸太小，易吸附在设备部件表面[14]。GIS内部放电异物等主要缺陷类型及引发故障比例如表1和图1所示。近年来，国内外对GIS中放电异物的研究主要集中在电场计算仿真、绝缘结构优化、缺陷在线或离线检测、闪络故障分析、SF6分解物的研究方法等方面，并取得了一定的成果。在对GIS中异物放电的评估中，除需要确定放电的类型和放电位置之外，还需要了解放电异物的来源和材料[15]。