《表5 两种控制图分析成本对比》

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《面向多品种、小批量微电子制造过程的SPC技术应用研究》


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芯片粘结统计过程控制数据采集为破坏性,对采用本文的嵌套回归控制图与常规控制图对比分析如表5所示。