《表1 平面近场测量参数设置》
根据上节所述的修正理论和步骤,可以得到一套完整的MARS算法,为验证该MARS算法的有效性,通过在待测天线周围引入不同的干扰源来进行实验。实验方案如图2所示,利用平面近场测量系统对待测天线远场特性进行测量,放置两个干扰源在天线辐射口面附近,用来模拟紧邻天线的多径干扰源。如图3所示为试验现场,实验所采用的待测天线为脊喇叭天线,采用的干扰源为三组大小不同的角反射器。干扰源的位置与待测天线的口面平齐,分别位于待测天线的水平方向和垂直方向。采用控制变量法,在如表1所示的相同测试条件下,对同一待测天线,引入金属面积为2mm×2mm×2mm、4mm×4mm×4mm和6mm×6mm×6mm的三种角反射器进行实验,分别记为实验一、实验二和实验三。
图表编号 | XD00126944600 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.01 |
作者 | 洪涛、高雨辰、姜文、龚书喜 |
绘制单位 | 西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室、西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室、西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室、西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室 |
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