《表3 封装产品检测数据表》

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《硅基板芯片的电子封装结构优化方法研究》


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针对改进后的封装技术,通过开展试流测试,来检验新型封装产品在防止芯片与框架分层的优化效果,具体实验数据如表3所示,从中可以看出改进后的产品性能良好,成品率稳定。