《表1 不同包覆时间下XRF结果(质量分数)》

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《SiO_2包覆羰基铁粉电磁特性及吸波性能研究》

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XRF(X射线荧光光谱分析）用于检测各种元素的种类及含量，使用XRF对试验样品进行检测可确定样品中Fe与Si的元素含量，而Si元素在样品中以SiO2的形式存在。表1为不同包覆时间下的XRF结果：未包覆样品中Si元素质量分数为0.53%，说明在原羰基铁粉样品中存在很少的Si元素，Si元素可能来自于粉末工业生产、运输、存放等过程中。而随着包覆时间的延长，TEOS水解生成低聚硅氧烷中的Si–OH与羰基铁粉表面的–OH不断结合，使得样品中Si元素含量逐渐增大，当包覆时间为8h时，Si元素质量分数增加至3.09%。Si元素的增加，说明随着包覆时间的延长，羰基铁粉表面包覆的SiO2不断增加。