《表1 基于标准探测器的Si-SPAD探测效率测量》
国外众多计量机构,如美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST),德国联邦物理技术研究院(Physikalisch-Technische Bundesanstait,PTB)和韩国国家计量院等均利用溯源至低温绝对辐射计的标准探测器来校准Si-SPAD的探测效率,给出了所用测量模型,进行了一些比对测量研究,并给出了测量不确定度分析,见表1;国内目前还未见相关报道.
图表编号 | XD00117856200 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.12.01 |
作者 | 刘长明、史学舜、张鹏举、庄新港、刘红博 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所、国防科技工业光电子一级计量站、中国电子科技集团公司第四十一研究所、国防科技工业光电子一级计量站、中国电子科技集团公司第四十一研究所、国防科技工业光电子一级计量站、中国电子科技集团公司第四十一研究所、国防科技工业光电子一级计量站、中国电子科技集团公司第四十一研究所、国防科技工业光电子一级计量站 |
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