《表1 探测效率与塑料闪烁体厚度的关系》

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《采用硅光电倍增管和塑闪阵列的便携式快中子成像系统的可行性研究》

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除阈值之外，闪烁体厚度同样会影响探测效率。塑料闪烁体为64×64阵列，阵列单元尺寸为2 mm×2 mm×d mm，其中：d为闪烁体厚度（阵列整体尺寸128 mm×128 mm×d mm）。模拟中d分别设置为5 mm、10 mm、15 mm、20 mm和30 mm。在阈值为0.1 Me Vee时，计算得到的探测效率同塑料闪烁体厚度的关系如表1所示。闪烁体厚度增加虽然可以提高探测效率，从而减少成像用时，但是也会增加非直接入射中子的响应几率，影响成像效果。同时，中子源束流与靶产生的韧致辐射、中子非弹性散射产生的次生γ射线，被探测到的几率也会随着闪烁体厚度的增加而变大。