《表1 高嵌体组与全冠组修复前后SBI、PLI、GI的比较》

  提示：宽带有限、当前游客访问压缩模式

本系列图表出处文件名：随高清版一同展现

《CAD/CAM玻璃陶瓷高嵌体修复冠折磨牙的疗效评价》

1. 获取 高清版本忘记账户？点击这里登录

1. 下载图表忘记账户？点击这里登录

注SBI：龈沟出血指数；PLI：菌斑指数；GI：牙龈指数

修复后随访1年，高嵌体组成功率96.4%，全冠组成功率92.9%，成功率差异无统计学意义（χ2=1.01，P>0.05）。修复失败原因，高嵌体组：1例崩瓷；全冠组：1例食物嵌塞，1例牙龈炎症。高嵌体组与全冠组修复前后SBI、PLI、GI差异无统计学意义（P>0.05，表1）。