《表2 传统老炼方法与老炼过程中测试的比较》

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《DDR3芯片基于XR8238A全地址全功能老炼过程测试》

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图7(a）为该款DDR3芯片单通道基于XR8238A完整的输出波形，图7(b）、（c）分别为写、读波形，从波形可以看出来，该方案成功实现了对该DDR3芯片的老炼过程中测试，测试结果满足了DDR3芯片的功能测试要求。表2为传统老炼方法与老炼过程中测试的比较，通过比较可以发现传统的老炼方法已经越来越不适应集成电路老炼试验的需求，老炼过程中测试必然是后续发展的方向。