《表3 图7d中B点EDS成分结果Table 3 EDS analysis of spot B in Fig.7d》

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《连接温度对高铌TiAl合金扩散接头组织和强度的影响》

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图7为不同温度下的断口形貌。当连接温度较低（1000℃）时，断口平面较为平滑，此时断口上有大量的等轴晶存在，断裂形式为晶间断裂，如图7a、7d所示。对其中一个等轴晶（点B）进行能谱分析，结果如表3所示。可知其为再结晶晶粒。继续升高连接温度（1100℃），此时断口平面上有少量凸出部分，如图7b中区域1所示，其为断裂母材。因此可以判断此时部分断裂发生在母材侧，这主要是由于再结晶晶粒的不均匀长大所致，个别大的晶粒会导致断裂发生在母材处。断口平面上含有部分等轴晶，断裂形式为解理断裂和韧性断裂并存，如图7e所示。当温度达到1200℃时，断裂主要发生在母材处，如图7c中区域2所示，此时断口中存在大量河流花样，呈典型的解理断裂特征，如图7f所示。随着连接温度的升高，连接界面处晶粒不断长大，接头抗剪切强度升高，当连接温度达到1200℃时，晶粒尺寸过大，导致断裂发生在母材侧。