《表1 Ru和Cu在不同抛光液中的去除速率和去除速率选择比[31]》
2015年,河北工业大学安卫静等人[31]同样在高碘酸钾体系中研究了FA/O螯合剂对铜和钌CMP的影响,实验结果表明:KIO4可以大幅提高钌的去除速率,并且当KIO4的浓度为0.02 mol/L、FA/O螯合剂的浓度为3 mol/L时,铜和钌之间去除速率选择比可以实现1或者略大于1,结果如表1[31]所示。此外,2017年河北工业大学郑环等人[32]使用次氯酸钠作为氧化剂,采用FA/O为螯合剂控制铜和钌的去除选择性,同样可以实现1∶1的铜和钌去除速率。
图表编号 | XD001112700 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.12.15 |
作者 | 王子艳、周建伟、张佳洁、王庆伟、王辰伟 |
绘制单位 | 河北工业大学电子信息工程学院、天津市电子材料与器件重点实验室、河北工业大学电子信息工程学院、天津市电子材料与器件重点实验室、河北工业大学电子信息工程学院、天津市电子材料与器件重点实验室、河北工业大学电子信息工程学院、天津市电子材料与器件重点实验室、河北工业大学电子信息工程学院、天津市电子材料与器件重点实验室 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |