《表2 纯和L-丝氨酸掺杂KDP晶体的振动频率》

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《L-丝氨酸掺杂KDP晶体的生长与表征》

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FT-IR光谱可以用来鉴定掺杂L-丝氨酸对KDP晶体官能团振动频率的影响。纯和L-丝氨酸掺杂KDP晶体与KBr研磨成粉压片后，用MAGNA-IR 560E.S.P光谱仪在400～4000 cm-1的波长范围内对样品的FT-IR光谱进行测试。图4显示了纯和L-丝氨酸掺杂KDP晶体的红外光谱分析。四组样品都能在图中找到有关KH2PO4各种基团振动产生的谱峰。在539 cm-1处左右的峰是由于KH2PO4中的H-P-OH伸缩振动引起的，1100 cm-1和1300 cm-1处的突出峰是PO2的对称和反对称伸缩振动引起的。O=P-OH基团的伸缩振动在1635 cm-1处产生了一个较宽的峰，在3425 cm-1处发现了-OH振动产生的小峰[25]。此外在掺杂L-丝氨酸后在图4中也找到了相关氨基酸的官能团振动频率。2854 cm-1和2923 cm-1处产生的弱峰，分别由L-丝氨酸分子的CH2的对称和反对称伸缩振动引起的，而在2348 cm-1处产生的峰认为是L-丝氨酸中NH2+或者NH3+的振动。当掺杂浓度较大时，晶体中出现了COO-大基团的振动频率，图中4mol%L-丝氨酸掺杂时1407 cm-1处的峰。结果表明L-丝氨酸已经掺入KDP晶体中。