《表1 测试数据Tab.1 Test data》
按照国标《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》中的相关参数测试方法和表1中的测试条件对流片后电路进行了批量测试,电压电压VV+为8 V,输出电流IO为200 m A,测试结果满足指标要求。测试仪器包括E3631A型电源、34401A型数字万用表、DS06104A型示波器。
图表编号 | XD001101200 严禁用于非法目的 |
---|---|
绘制时间 | 2018.10.03 |
作者 | 孙毛毛、彭克武、刘文韬、苟超、李鹏 |
绘制单位 | 中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |