《表4 各组分的校准参数及含量范围》

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《用于X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料的变质镁砂标样认定值的修正与再利用》

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根据各组分的X射线荧光强度（kcps）和质量分数（w/%）绘制校准曲线。熔融制样法与粉末压片法相比虽然大大减少了样品的矿物效应[14]，但是元素之间的一些影响仍然存在，因此采用经验α系数法进行校正时，则要考虑元素的光谱重叠效应和吸收增强作用，如CaKαIII和MgKα，BrLα1（由脱模剂引入）和AlKα，MnKβ1和FeKα，CrKβ1和MnKα有谱线重叠，需进行谱线重叠校正，而高硅质镁砂由于SiO2含量较高，对MgO有吸收增强作用，需要进行吸收增强校正，各待测组分的校准参数及含量范围见表4。RMS是未考虑权重因子情况下的均方根偏差，是在所给出校准曲线的含量范围内予以计算的，一般可由分析软件自动计算得出[15]。RMS体现标准物质在校准曲线中的离散程度，离散度越大，RMS越大；同时也和标准物质的含量有关，含量越高，RMS越大。校正后校准曲线各组分的RMS值见表4。