《表3 第二簇数据成分范围》
既然元素的系数随α的值而变化,每个特征量出现,我们在图2中用平行于纵坐标的虚线来表示.图3所示为留一法交叉验证测试集上的均方根误差和整体均方根误差随着α变化的折线图.图3中每条虚线都与图2中的虚线对应的α取值相等.将第k根虚线所对应的α作为有k(有可能大于k,因为在有些虚线处出现了多个特征量,如图2中的第4根虚线就出现了两个特征)个特征量的公式所使用的α,如第1根虚线对应的α为1个特征量的公式所使用的α.从图3可以看出,虽然随着α的减小,整体均方根误差在不断减小,在右侧箭头所指向的点之后基本保持不变.而留一法均方根误差在几处出现极小值,选取全局最小值对应的α值(左侧箭头所指向的点,即第6根虚线所对应的α)作为合理的α取值,这时特征量的系数是留一法交叉验证均方根误差全局最小值对应的系数.第二簇数据中成分的取值范围如表3所示,且需要满足所有元素质量分数之和为1.
图表编号 | XD00106563700 严禁用于非法目的 |
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绘制时间 | 2019.10.20 |
作者 | 王家豪、孙升、何燕霖、张统一 |
绘制单位 | 上海大学材料基因组工程研究院、上海大学材料基因组工程研究院、上海大学材料科学与工程学院、上海大学材料基因组工程研究院 |
更多格式 | 高清、无水印(增值服务) |