《表7 不同方法对GSDTSR和ChipTest系统测试的效率成本百分比、运行时间缩减率及揭露错误百分比》

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《敏捷开发环境中的回归测试优化技术》

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对于大规模的GSDTSR，其特点是版本迭代频繁，每个版本都有一定数量的新增功能，但错误数和测试用例数相差很大，从几千倍开始逐步递增．RA的ECP和RRT均较低，不适用．RS有较高的RRT（从36版本开始RRT均达到95%以上），但ECP基本最低（有超过三分之一的版本ECP为0），安全性不稳定，且由于其随机性，使其测试效果无法预知，因此综合评估RS不适用．MS和A-RTO的RRT与RS的差距仅有零点几的百分比，但A-RTO的ECP和DF比MS更胜一筹．FDS的DF可达100%，但它的RRT是除RA以外最低的，ECP也比A-RTO低，总体性能不高．所以，对于大数据量且错误数相对较少的系统，MS和A-RTO均可选择，A-RTO综合性能稍高．对于中等规模的ChipTest，其特点是版本迭代多，且每个版本新增功能较多，错误量高于测试用例数量．RS在ECP和DF上均最低，不适用．RA在ECP和RRT上均比MS、FDS和A-RTO差，DF与FDS、A-RTO持平．因此，对于这种中等规模的系统，MS、FDS和A-RTO均可选择．